Zref

Beskrivelse

Zref lar deg utføre to typer beregninger fra enkeltkrystalldiffraksjonsmålinger, for å bestemme enhetscelleparametere. Hvis du har sentrerte refleksjoner i 8 posisjoner på diffraktometeret med zref-kommandoen i Single-programvaren, lagres de endelige omega-profilene i en rfl-fil. Refleksjonsprofilene som er lagret i den filen kan deretter undersøkes av WinIntegrStp-programmet, tilpasses automatisk, og de ideelle toppposisjonene og celleparametrene kan bestemmes. Hvis du har problemer med toppformer, vil den automatiserte prosessen mislykkes. Hvis dette skjer, kan du tilpasse og integrere toppene for hånd i WinIntegrStp og lagre de tilpassede posisjonene i en integrert data- eller int-fil. Les deretter int-filen til dette programmet, hvor du kan bestemme de korrigerte toppposisjonene ved 8-posisjonsmetoden, og avgrense enhetscelleparametrene. Programmet vil også lese mattefiler generert av Single, slik at du kan utføre minste kvadrater på topplisten uten å starte Single.